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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Autor/Editor: Pavlov, Andrei - Sachdev, Manoj
Año de edición: 2008
Acceso: UBA
URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Idioma: inglés
Colección: Ingeniería
Tipo de documento: Monografía
Editor: Springer
ISBN-e: 978-1-4020-8363-1