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Model-Driven Testing
Autor/Editor: Baker, Paul - Dai, Zhen Ru - Grabowski, Jens - Haugen, Øystein - Schieferdecker, Ina - Williams, Clay
Año de edición: 2008
Acceso: UBA
Idioma: inglés
Colección: Computación
Tipo de documento: Monografía
Editor: Springer
ISBN-e: 978-3-540-72563-3