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An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Autor/Editor: Fearn, S.
Año de edición: 2015
Acceso: UBA
Idioma: inglés
Colección: Física
Keywords: Chemical Physics
Tipo de documento: Monografía
ISBN-e: 978-1-6817-4088-1