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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Autor/Editor: Fultz, Brent - Howe, James M.
Año de edición: 2008
Acceso: UBA
Idioma: inglés
Colección: Ingeniería
Tipo de documento: Monografía
Editor: Springer
ISBN-e: 978-3-540-73886-2