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VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power
Autor/Editor:
Shin, Youngsoo
Tsui, Chi Ying
Kim, Jae-Joon
Choi, Kiyoung
Reis, Ricardo
Año de edición:
2016
Acceso:
UBA
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0
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