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VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power
Autor/Editor: Shin, Youngsoo  Tsui, Chi Ying  Kim, Jae-Joon  Choi, Kiyoung  Reis, Ricardo
Año de edición: 2016
Acceso: UBA
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0
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